摘要
振幅调制原子力显微术(AmplitudeModulationAtomicForceMicroscopy,AM-AFM)作为一种重要的表面成像和纳米力学表征技术，在材料科学、生命科学等领域得到了广泛应用。
探针作为AM-AFM的核心部件，其动力学响应蕴含着丰富的样品表面信息。
为了更全面、深入地理解探针动力学行为，时域和频域分析方法被广泛应用于探针动力学响应的研究。
时域分析方法能够直观地展现探针振动随时间的变化规律，而频域分析方法则可以揭示探针振动中包含的不同频率成分及其强度信息。
本文首先介绍了AM-AFM的基本原理和探针动力学响应的概念，然后分别综述了时域和频域分析方法在AM-AFM探针动力学响应研究中的应用现状，并对两种分析方法的优缺点进行了比较。
最后，对AM-AFM探针动力学响应的时域和频域分析方法的未来发展方向进行了展望。
关键词：振幅调制原子力显微术；探针动力学响应；时域分析；频域分析；非线性动力学
原子力显微镜(AtomicForceMicroscopy,AFM)是一种能够在纳米尺度上对材料表面形貌、力学性能等进行表征的工具[1-3]。
AFM的基本原理是利用一个微悬臂梁上的锋利探针与样品表面相互作用，通过检测探针的形变或振动状态来获取样品表面信息。
根据探针的工作模式，AFM可以分为接触模式、非接触模式和间歇接触模式，其中间歇接触模式由于兼具接触模式和非接触模式的优点而被广泛应用，而振幅调制原子力显微术(AmplitudeModulationAtomicForceMicroscopy,AM-AFM)是间歇接触模式AFM的一种典型代表[4]。
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